بررسی اثر pH بر لایه های نانوساختار مس سلنید و گذارهای اپتیکی آن

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 361

نسخه کامل این مقاله ارائه نشده است و در دسترس نمی باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NFSI01_050

تاریخ نمایه سازی: 17 آبان 1396

چکیده مقاله:

در سال های اخیر، علم لایه های نازک در میان سایر علوم رشد قابل ملاحظه ای داشته است. در این پژوهش، لایه های نازک مس سلنید با روش لایه نشانی حمام بخار شیمیایی، (CBD)، در pH های مختلف تهیه شدند. خواص ساختاری، مورفولوژی و همچنیننوری، و گاف انرژی نانو ذراتمس سلنیدبر اساس تغییراتpHمحلول رسوب گیری، توسط پراش اشعه X، آنالیز SEM و طیف سنجی فرابنفش- مریی، (UV/Vis) مورد بررسی قرار گرفته است. لایه های نانوساختاری مس سلنید با استفاده از روش حمام بخار شیمیایی ساخته شد. ابتدا زیرلایه ها در اسید و آب مقطر لکه زدایی و سپس با اتانول و استون در التراسونیک شستشو شدند.مسیر واکنش بر اساس هیدرولیز سلنوسولفات به آنیون های سلنایددر محلول قلیایی و تجزیه آرام یونهای کمپلکس است. همه مواد شیمیایی استفاده شده، با خلوص 99 درصد و از شرکت مرک بودند. محلول سلنو سولفات با غلظت M 07/0 از سلنویم (Se) و M 7/0 از سولفیت سدیم(Na2SO3) با آب دو بار تقطیر شده در دمای C̊70 به مدت 8 ساعت پخت داده شد و پس از خنک شدن محلول از کاغذ صافی رد شد و محلول Na2SeSO3 بدست آمد.همچنین، نیترات مس با غلظت M 06/0(Cu(NO3)2.3H2O) در آب دوبار تقطیر شده به طور کامل حل شد و رنگ محلول آبی فیروزه ای بود. به منظور بررسی اثر pHآمونیاک بعلت خاصیت کیلیت سازی و آزاد کردن آرام کاتیون فلزی به صورت قطره قطره به محلول اضافه می شود.سه محلول با pH های مختلف توسط pH سنج تهیه شد. در پایان محلولها به رنگ آبی نفتی درآمدند. در نهایت در بشرهای مورد نظر محلول نیترات مس وسپس سلنوسولفات با نسبت برابر مخلوط شدند و برای رسوبگیری زیرلایه ها به صورت قایم در محلول در آون C̊36 نگه داشته شدند و پس از مدت 3 ساعت لایه نشانی، برداشته و توسط آب مقطر چندین بار شسته شدند. شمایی از روش CBD در شکل (1)آمده است. مشخصه یابی ساختاری لایه های نازک مس سلنید از آنالیز XRDبا استفاده از دستگاه Cu-Kɑ-Philips، با طول موج Å54/1=ƛانجام شد. مورفولوژی لایه ها توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM).برای بررسی خواص اپتیکی لایه ها از دستگاه اسپکتروفوتومتر UV-Visبا مشخصات Perkin-ElmerLambda 25-USA استفاده شد.

نویسندگان

نادر قبادی

گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه ملایر، ایران

سمیه چوبین

گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه ملایر، ایران