بررسی تأثیر دو پارامتر تابع چگالی و زبری سطح و لایه های کامپوزیتی مس و نقره در ابعاد نانو متری

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 565

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NRIME01_380

تاریخ نمایه سازی: 27 بهمن 1394

چکیده مقاله:

ابراز علاقه و تمایل زیادی به طراحی و ساخت لایه های نازک با مورفولوژی هایی که جواب گوی کاربردها و نیازهای مختلف است وجود دارد. از این رو در این مقاله با استفاده از آنالیز های AFM و XRD به منظور تجزیه کامل سطوح بم و شرح کردن ترکیباتی که میکرو ساختار لایه ها را تسکین داده بود استفاده گردید. اثر افزایش ضخامت لایه ها با استفاده از بعد فرکتالی و تابع چگالی POWER SPECTRAL DENSITY که از داده های AFM به دست آمد بررسی کردید. نتایج حاصل از داده های AFM نشان از احتمال و ابر ساختارها در مکانیزم رشد نانو ساختارهای مس را داشت که با اطلاعات حاصل از XRD در توافق نسبتاً خوبی بودند.

کلیدواژه ها:

نانو ذرات مس و نقره ، پیک پلاسمونی ، uv-visible ، AFM

نویسندگان

نسرین ساسانی

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، واحد کرمانشاه، دانشگاه آزاد اسلامی کرمانشاه

سحر رضایی

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، واحد کرمانشاه، دانشگاه آزاد اسلامی کرمانشاه

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Power Spectral Density Study 4Aه 2. R. GAVRILA, A. DINESCU, ...
  • S. Singh , S. Basu , S.K. Ghosh, (2009), "Structure ...
  • J.H. Han, W.S. Yang, J.B. Yoo, C.Y. Park, (2000), "Growth ...
  • characteristics of vertically well-aligned carbon nanotubes grown on glass substrate ...
  • Y.C. Choi, Y.M. Shin, Y.H. Lee, B.S. Lee, G.S. Park, ...
  • Y. C _ Choi, D .W.Kim, T.J. Lee, C.J. Lee, ...
  • J.M. Elson, J.M. Bennett, (1995), "Relation between the angular dependence ...
  • G. Binnig, C.F. Quate, C. Gerber, (1986), "atomic force microscope" ...
  • A.Arn_eodo, N.Decoster, S.G.Roux, (2000), Eur.Phys..B 15, 567. ...
  • P. Pfeifer, Y.J. Wu, M.W. Cole, J. Krim, (1989), "Multilayer ...
  • J. Ferre-Borrull, A. Duparre, E. Quesnel, (2001), "Procedure to characterize ...
  • E.L. Church, (1988), "Fractal surface finishf , Appl. Opt. 22, ...
  • نمایش کامل مراجع