اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی
محل انتشار: اولین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,345
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PHOTONICS01_063
تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1387
چکیده مقاله:
در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی به عنوان یک روش تست غیر مخرب اپتیکی تغییرات اعمال شده به
سطح، ناشی از اثرات حرارتی را بررسی کرده ایم. آزمایش با دقتی در مرتبه نصف طول موج به وسیله ی لیزر دیودی ( λ=662 nm ) انجام شد. نمونه ی مورد بررسی یک پتانسیومتر مکعب مستطیل با سطح مقطع 1×1 cm .بود.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
علی موسویان
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
ابراهیم بحرودی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
حمید لطیفی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :