اعمال لایه نازک تیتانیا با خواص فتوکاتالیستی بر روی مقرههای پرسلانی جهت حذف آلایندهها

در این تحقیق، لایه نازک تیتانیا بر روی زیرلایه هایی از جنس مقره پرسلانی به روش سل – ژل غوطه وری اعمال شد. ساختار کریستالی و مورفولوژی لایه نازک با تفرق اشعه ایکس (XRD)ومیکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) بررسی شد. توپوگرافی سطحی لایه نازک با میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)حاکی از سطح دانه دانه ای با متوسط اندازه دانههای 50 نانومتر بود. خواص فتوکاتالیستی لایه نازک تیتانیا به وسیله تجزیه محلول رنگی متیلن بلMethylene(Blue=MB)مطالعه شد. نتایج XRD نشان می دهد که با افزایش دمای کلسیناسیون، شدت پیک های کریستاله شده افزایش یافته است. با توجه به تصاویرSEMذراتی با متوسط 100-70 نانومتر و ضخامت لایه نازک کمتر از1 میکرومتربود. بهترین خواص فتوکاتالیستی نمونه ها در دمای کلسیناسیون ºC400 حاصل شد.

کلیدواژه ها:

مقره پرسلانی ، سل- ژل ، غوطهوری ، لایه نازک ، خواص فتوکاتالیستی