بررسی عملکرد چند تابع شکل برای توصیف نیمرخهای f(s) , g(s) , h(s) و تعیین اندازه ذرات به روش واریانس

سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,450

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

SCMI14_035

تاریخ نمایه سازی: 29 تیر 1386

چکیده مقاله:

در این مقاله نخست با استفاده از روش استوکس نیمرخ خالص پراش نمونه، f(s) از نیمرخ پراش نمونه بس بلور با ذرات نانومتری ، h(s) و نیمرخ پراش نمونه استاندارد، g(s) استخراج و سپس با برازش تابعهای گوس (G) ، لورنتس (L) و شبه ویت (P-V) در داده های پراش نشان داده شد که تابع شکل (P-V) تابع مناسبی برای توصیف نیمرخهای مزبور است. از این رو برای تعیین اندازه ذرات و تنش پسماند، شکل خطوط پراش را (P-V) فرض کرده و به جای محاسبه عددی واریانس، واریانس تابع (P-V) محاسبه و به کمک آن اندازه ذرات در چند راستای بلورشناسی محاسبه شد. چون مقادیر به دست امده برای ناچیز و منفی بود، نتیجه گیری شد که تنش نمونه در حد قابل اندازه گیری نیست.

نویسندگان

ویشتاسب سلیمانیان

دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده فیزیک

روح الله عقدایی

دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده فیزیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • B al zar, D _ """""""""""" edited by R.L.Synder, .J ...
  • Klug, H.P& A lexander, L.E.(1974). X-ray Diffraction Procedures for Polycristaline ...
  • Young, R.A .& Wi les, D.B.(1 982) .J.Appl.Cryst. 15, 430-438 ...
  • ag, H &_Zhgu, J .(2005). J. Appl. Cryst. 38, 830-832 ...
  • Wilson, A.J.C.(1962).X-ray Optics, London :Methuen ...
  • Longford, J.I(1982). J. Appl. Cryst.1 1, 102-113 ...
  • Sanchez, F.B & Cumbrera, F .L.(1 997).J. Appl. Cryst. 15, ...
  • نمایش کامل مراجع