تهیه و خواصفیلم نازک 12 CaCu Ti4O رشد داده شده بر روی سیلیکون پوشش داده شده با 3 LaNiO توسط فرآیند سل – ژل
محل انتشار: شانزدهمین همایش بلور شناسی و کانی شناسی ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 820
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
SCMI16_019
تاریخ نمایه سازی: 8 بهمن 1391
چکیده مقاله:
فیلم نازک CCTO بر روی زیر لایه سلیکونی پوشش داده شده با LNO توسط فرآیند سل – ژل تهیه شده بود .نمونه ی CCTO دارای ساختار پروسکایتی بدون هیچ گونه ناخالصی قابل توجهی می باشد . در مقایسه با فیلم های رشد داده شده روی پلاتین Pt فیلم نازک CCTO روی LNO جهت گیری ابتدایی 400 را نشان می دهد . این ممکن است به خاطر فعالیت های لایه ی کشت LNO در خلال رشد CCTO باشد ، که این مسئله نشان دهنده ی کاهش کمتر دی الکتریک فیلم نازک CCTO روی LNO از مقدار کاهش دی الکتریک بر روی پلاتین می باشد .پاسخ دی الکتریک فیلم نازک CCTO روی LNO می تواند توسط تاثیر رسانایی و نفوذ ارائه شده ی مدل آرامش دبای توصیف شود
کلیدواژه ها:
رسوبگیری پلی کریستالی.پروسکایت ها.ترکیبات تیتانیوم –مواد دی الکتریک
نویسندگان
هادی محمدی
دانشگاه پیام نور سنقر – گروه شیمی
محسن حیدری
دانشگاه پیام نور سنقر – گروه شیمی
اعظم انتظاری هرسینی
دانشگاه پیام نور سنقر – گروه زمین شناس
حامد درخشی
دانشگاه پیام نور سنقر – گروه شیمی