CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

شبیه سازی تنش های پسماند در پوششهای لایه نازک TiN و CrN با استفاده از روش اجزای محدود

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۷ | تعداد نمایش خلاصه: ۴۶۶ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۰
کد COI مقاله: THINFILM01_002
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۶۵۵.۲۳ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۷ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۷ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله شبیه سازی تنش های پسماند در پوششهای لایه نازک TiN و CrN با استفاده از روش اجزای محدود

مهدی اکبرزاده مقدم - دانشجوی کارشناسی ارشد صنعتی اصفهان
محمد بخشیان بافرانی - دانشجوی کارشناسی ارشد صنعتی اصفهان
  علی شفیعی - دانشیار دانشگاه صنعتی اصفهان

چکیده مقاله:

به دلیل اهمیت تنش پسماند در پوشش های سخت لایه نازک،در مقاله حاضر به ارزیابی و تحلیل تنش پسماند با استفاده از روش شبیه سازی اجزاء محدود در محیط انسیس، پرداخته میشود.بدین منظور تنش های پسماند در دو پوشش لایه نازک TiNوCrN اعمال شده توسط روش رشوب فیزیکی بخار با استفاده از قوس کاتدی شبیه سازی شد و با نتایج آزمایشگاهی به منظور اندازه گیری تنش مقایسه گردید.نتایج به دست آمده حاکی از تطابق مناسب بین نتایح حاصل از این شبیه سازی و مقادیر تجربی دارد.

کلیدواژه‌ها:

لایه نازک ،شبیه سازی اجزای محدود ،تنش پسماند ،رسوب فیزیکی بخار

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-THINFILM01-THINFILM01_002.html
کد COI مقاله: THINFILM01_002

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
اکبرزاده مقدم, مهدی؛ محمد بخشیان بافرانی و علی شفیعی، ۱۳۹۰، شبیه سازی تنش های پسماند در پوششهای لایه نازک TiN و CrN با استفاده از روش اجزای محدود، اولین کنفرانس ملی نوآوری ها در پردازش لایه های نازک و مشخصه های آنها، کرمان، مرکز بین المللی علوم و تکنولوژی پیشرفته و علوم محیطی، https://www.civilica.com/Paper-THINFILM01-THINFILM01_002.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (اکبرزاده مقدم, مهدی؛ محمد بخشیان بافرانی و علی شفیعی، ۱۳۹۰)
برای بار دوم به بعد: (اکبرزاده مقدم؛ بخشیان بافرانی و شفیعی، ۱۳۹۰)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • ]1 T. V, "Residual stress and cracking in thin PVD ...
  • ]2[T. V, "Mechanical integrity in PVD coatings due to the ...
  • ]3[B. Navinsek, et al., _ _ Characterizat On of low ...
  • ]4[L. A. Dobrzahski, et al., "Employment of the finite element ...
  • ]5[W. H. Zachariasen, Theory of X-ray diffraction in crystals. Mineola, ...
  • ]6[E. G. Herbert, et al., "On the measuremet of stress-strain ...
  • ]7[L. A. D. nski, et al., "Employment of the finite ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
  • صنعت اتصال > جوشکاری
  • اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.