همبستگی بین مشخصات نانو ساختاری لایه های نازک آلمینیومی و پراکندگی نور به روش کیرشهف
عنوان مقاله: همبستگی بین مشخصات نانو ساختاری لایه های نازک آلمینیومی و پراکندگی نور به روش کیرشهف
شناسه ملی مقاله: CMC08_017
منتشر شده در هشتمین کنفرانس ماده چگال در سال 1385
شناسه ملی مقاله: CMC08_017
منتشر شده در هشتمین کنفرانس ماده چگال در سال 1385
مشخصات نویسندگان مقاله:
سکینه حسین آبادی - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
عبدالله مرتضی علی - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
محمدرضا سرکرده ای - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
رضا جعفری - دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شریف، تهران
خلاصه مقاله:
سکینه حسین آبادی - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
عبدالله مرتضی علی - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
محمدرضا سرکرده ای - گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
رضا جعفری - دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شریف، تهران
در این مقاله ، لایه های نازک آلمینیومی در 5 ضخامت مختلف با استفاده از دستگاه تبخیر در خلا بر روی سطوح شیشه ای لایه نشانی شده اند . با استفاده از اطلاعات حاصل از میکروسکوپ نیروی اتمی ) ) AFM ، زمختی ( زبری ) و طول همدوسی این سطوح اندازه گیری شده است . بررسی بازه تقریب کیرشهف در پراکندگی نور از سطوح آلمینیومی ، تعیین شدت نور پراکنده در زوایای پراکندگی مختلف و همچنین خواص اپتیکی از قبیل بازتاب و پراکندگی نانو ساختاری از آن سطوح در ضخامت های مختلف از جمله مراحل این تحقیق می باشد .
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/25859/