ندا رحمانی نسب - تهران ; دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات
سعید باغشاهی - قزوین ; دانشگاه بین المللی امام خمینی ( ره ) ، گروه مواد
محمد امیرشهبازی - اصفهان ; شرکت صنایع اپتیک
مرتضی تمیزی فر - تهران ; دانشگاه علم و صنعت ایران ، گروه مواد

نانولایه های Ag و Cu با استفاده از روش کندوپاش مغناطیسی DC لایه نشانی شدند . این لایه ها بر روی زیرلایه های شیشه ای فلوت (Float) دارای دمای متفاوت و با اعمال توان متغیر به هدف لایه نشانی شدند . از لایه واسطه ITO برای بهبود چسبندگی لایه Ag استفاده شد . مشخصات لایه ها توسط روش اسپکتروفتومتری ، آزمون چسبندگی MIL13508 ، RBS ، PIXE و XRD مورد بررسی قرار گرفت . افزایش دمای زیرلایه و حضور لایه واسطه ITO میزان چسبندگی لایه به زیرلایه را بهبود بخشید . افزایش ضخامت لایه و درصد وزنی Ag و کاهش ضخامت ITO باعث افزایش بازتابش IR شد ، اما افزایش توان هدف نقره تاثیری بر بازتابش در ناحیه IR نداشت