مهدی رنجبر - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران
اعظم ایرجی زاد - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران، پژوهشکده نانو دانشگاه صنع
سیدمحمد مهدوی - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران

لایه های نازک از قرصهایی با ترکیب 5 ر 1-0 ر ) WO 3 (-)V 2 O 5 )x=0 به کمک لایه نشانی لیزر پالسی N d: YAG در فشار 100 mTorr اکسیژن بر روی شیشه ساخته شدند . با استفاده از عبور اپتیکی در بازه 100 nm تا 1200 nm مشخص شد که گاف انرژی اپتیکی لایه ها با افزایش x کاهش می یابد . ترکیب شیمیایی سطح به کمک اسپکتروسکوپی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) بررسی شدند . این نتایج نشان داد که وانادیم به صورت V 2 O 5 و VO 2 و تنگستن به صورت WO 3 در ترکیب اکسیدی قرار دارند . توپوگرافی سطح نمونه ها با SEM بررسی و مشخص شد در نسبتهای 1 ر 0 تا 2 ر 0 اندازه دانه ها بین 70-100 nm است و با افزایش x اندازه مرزدانه ها و همچنین ترکهای بین دانه ها افزایش می یابد . در نسبتهای 4 ر 0 تا 5 ر 0 ناهمواری لایه ها بیشتر شده و در مورد آخر دانه های کروی شکل با ابعاد حدود 500 nm بر روی سطح شکل می گیرند . این مقایسه ها نشان می دهند در لایه نشانی لیزر پالسی برای مصارف سنسور گاز و یا کاتالیستی نسبتهای 1 ر 0 تا 2 ر 0 سطحی با ساختار نانومتری به دست داده که برای سنسورهای اپتیکی هیدروژن مناسب تر هستد