CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله استفاده از اشعه ایکس برای تعیین خلوص در کریستال به روش رشد ناحیه شناور

عنوان مقاله: استفاده از اشعه ایکس برای تعیین خلوص در کریستال به روش رشد ناحیه شناور
شناسه (COI) مقاله: ELECA01_038
منتشر شده در اولین همایش منطقه ای برق و فناوریهای نوین در سال ۱۳۹۴
مشخصات نویسندگان مقاله:

مرتضی دلسوار - دانشکده فنی‐ مهندسی ،دانشگاه آزاد اسلامی واحد اردبیل،اردبیل -ایران
علی پیردلخوش - دانشکده فنی‐ مهندسی ،دانشگاه آزاد اسلامی واحد اردبیل،اردبیل -ایران
رضا سیفی - دانشکده فنی‐ مهندسی ،دانشگاه آزاد اسلامی واحد اردبیل،اردبیل -ایران

خلاصه مقاله:
در این مقاله، از اشعه ایکس برای تعیین خلوص کریستال در رشد ناحیه شناور استفاده شده است. روش ناحیه شناور یکی از روش های تولید و رشد کریستال است. به منظور بدست آوردن درصد خلوص کریستال مورد نظر برای ساخت انواع تراشه ها و قطعات الکترونیکی این روش مورد بررسی قرار گرفته شده است. کارآیی دیگر این روش به حداقل رساندن هزینه اضافی در رشد کریستال و همچنین کاهش زمانی است که برای ساخت هر بلور طی می شود.

کلمات کلیدی:
اشعه ایکس، کریستال، روش ناحیه شناور، بلور

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-ELECA01-ELECA01_038.html