CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله اطلاعات اصطکاکی فیلم نازک چند لایه TiO2

عنوان مقاله: اطلاعات اصطکاکی فیلم نازک چند لایه TiO2
شناسه (COI) مقاله: IMES05_108
منتشر شده در پنجمین همایش مشترک انجمن مهندسی متالورژی ایران در سال ۱۳۹۰
مشخصات نویسندگان مقاله:

احسان رحمانی - فوق لیسانس مهندسی شیمی، دانشگاه فردوسی مشهد
علی احمدپور - دانشیار مهندسی شیمی، دانشگاه فردوسی مشهد
مجتبی زبرجد - دانشیار مهندسی مواد، دانشگاه فردوسی مشهد

خلاصه مقاله:
فیلم های نازک TiO2 با استفاده از تکنیک سل-ژل روی سطح شیشه پوشش دهی و سپس فیلم های بدست آمده برای رشد کریستالها در دمای 500 درجه سانتیگراد قرار گرفتند. برای مشخص کردن عناصر طیف پراکنده کننده اشعه ایکس (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS) استفاده شد. این آنالیز نشان داد که عناصر Ti و اکسیژن در فیلم وجود دارند. حضور عناصری چون Si و Na و Mg و Ca بخاطر حضور این عناصر در پایه شیشه ای می باشد. اندازه و نوع کریستالها نیز از آنالیز تفرق اشعه ایکس (X-ray Diffraction, XRD) بدست آمدند. این آنالیز نشان م یدهد که فقط کریستال های از نوع آناتاز در فیلم ها موجود می باشد. برای مطالعه سطح فیلم قبل و بعد از سایش از میکروسکوپ تونل زنی (Scanning Tunneling Microscope, STM) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope, SEM) استفاده شده است. فیلم های بدست آمده با استفاده از دشتگاه تست کننده سایش و اصطکاک از نوع Pin on disk مورد آنالیز اصطکاک قرار گرفتند. نتایج حاصل نشان داد که فیلم های TiO2 دارای مقاومت به سایش بالایی می باشند. علت احتمالی مقاومت فیلم های TiO2 رد مقابل سایش مقاومت در برابر تغییر شکل پلاستیکی و چسبندگی مناسب روی سطح شیشه می باشد.

کلمات کلیدی:
فیلم نازک SiO2 ،TiO2، اطلاعات اصطکاکی، سل-ژل

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-IMES05-IMES05_108.html