CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی اتصال اهمی Ni/Cu لایه نشانی شده توسط روش الکتروشیمیایی بر روی سیلیکان چند بلوری برای سلولهای خورشیدی

عنوان مقاله: بررسی اتصال اهمی Ni/Cu لایه نشانی شده توسط روش الکتروشیمیایی بر روی سیلیکان چند بلوری برای سلولهای خورشیدی
شناسه ملی مقاله: IPC84_090
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۴ در سال 1384
مشخصات نویسندگان مقاله:

نگین معنوی زاده - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، گروه مهندسی برق وکامپیوتر، دانشک
رشید صفاایسینی - آزمایشگاه ت
ابراهیم اصل سلیمانی - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، گروه مهندسی برق وکامپیوتر، دانشک
فاطمه دهقان نیری - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، گروه مهندسی برق وکامپیوتر، دانشک

خلاصه مقاله:
در این مقاله ساختار اتصال Ni/Cu بر روی کریستال بس بلور سیلیکان به روش الکتروشیمیایی مورد بررسی قرار گرفته است . چنین ساختاری به دلیل کم هزینه بودن، مقاومت پایین، چسبندگی خوب و استفاده آسان، مورد توجه قرار گرفته است . در این ساختار نیکل به عنوان سدی برای جلوگیری از نفوذ مس به زیرلایه سیلیکان و همچنین برای به وجود آوردن اتصال اهمی مورد استفاده واقع می شود . از مس نیز به علت مقاومت الکتریکی پایین آن و همچنین مقاومت بالای آنها در برابر مهاجرت الکترونها استفاده میشود

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/26067/