مطالعه ی بستگی زبری سطوح لایه های نازک Pt به چگالی جریان رشد به کمک میکروسکوپ نیروی اتمی
عنوان مقاله: مطالعه ی بستگی زبری سطوح لایه های نازک Pt به چگالی جریان رشد به کمک میکروسکوپ نیروی اتمی
شناسه ملی مقاله: IPC85_019
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1385 در سال 1385
شناسه ملی مقاله: IPC85_019
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1385 در سال 1385
مشخصات نویسندگان مقاله:
غلامرضا نبیونی - گروه فیزیک دانشگاه اراک
محمد احمدی راد - گروه فیزیک دانشگاه اراک
خلاصه مقاله:
غلامرضا نبیونی - گروه فیزیک دانشگاه اراک
محمد احمدی راد - گروه فیزیک دانشگاه اراک
در این کار لایهی نازک پلاتین به ضخامت 500 nm به روش الکتروانباشت که روشی ارزان و در دسترس است روی زیرلایه طلا رشد داده شد . پارامتری که تأثیر آن بـر روی ساختار سطح، بررسی شد، چگالی جریان انباشت ( که متناظر با آهنگ انباشت است ) میباشد . سپس ریشهی میانگین مربعی زبری (w ) و همچنین مرتبه ی زبری ( α ) اندازهگیری و برای نمونه های مختلف مقایسه شد که به کمک آن چگونگی تغییر w و α با تغییر آهنگ انباشت حاصل گردیـد . مـشخص شـد کـه w بـا افـزایش آهنـگ انباشت، افزایش می یابد؛ که نشان دهنده ی افزایش تغییرات ارتفاع نقاط مختلف نسبت به یک سطح مرجع و در نتیجه زبر شدن آن است . همچنین α نیز با افزایش آهنـگ انباشت افزایش مییابد که نشان دهندهی " ملایم " شدن تغییرات ارتفاع برای نقاط همسایه و در نتیجه موجی شدن سطح است .
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/24664/