CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

مطالعه ی بستگی زبری سطوح لایه های نازک Pt به چگالی جریان رشد به کمک میکروسکوپ نیروی اتمی

عنوان مقاله: مطالعه ی بستگی زبری سطوح لایه های نازک Pt به چگالی جریان رشد به کمک میکروسکوپ نیروی اتمی
شناسه ملی مقاله: IPC85_019
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1385 در سال 1385
مشخصات نویسندگان مقاله:

غلامرضا نبیونی - گروه فیزیک دانشگاه اراک
محمد احمدی راد - گروه فیزیک دانشگاه اراک

خلاصه مقاله:
در این کار لایهی نازک پلاتین به ضخامت 500 nm به روش الکتروانباشت که روشی ارزان و در دسترس است روی زیرلایه طلا رشد داده شد . پارامتری که تأثیر آن بـر روی ساختار سطح، بررسی شد، چگالی جریان انباشت ( که متناظر با آهنگ انباشت است ) میباشد . سپس ریشهی میانگین مربعی زبری (w ) و همچنین مرتبه ی زبری ( α ) اندازهگیری و برای نمونه های مختلف مقایسه شد که به کمک آن چگونگی تغییر w و α با تغییر آهنگ انباشت حاصل گردیـد . مـشخص شـد کـه w بـا افـزایش آهنـگ انباشت، افزایش می یابد؛ که نشان دهنده ی افزایش تغییرات ارتفاع نقاط مختلف نسبت به یک سطح مرجع و در نتیجه زبر شدن آن است . همچنین α نیز با افزایش آهنـگ انباشت افزایش مییابد که نشان دهندهی " ملایم " شدن تغییرات ارتفاع برای نقاط همسایه و در نتیجه موجی شدن سطح است .

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/24664/