CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله مروری بر کاربرد طی فسنجی مغناطیسی هسته در تجزیه ریزساختار پلیمر های وینیلی

عنوان مقاله: مروری بر کاربرد طی فسنجی مغناطیسی هسته در تجزیه ریزساختار پلیمر های وینیلی
شناسه (COI) مقاله: JR_BSPR-2-4_001
منتشر شده در فصلنامه بسپارش در سال ۱۳۹۱
مشخصات نویسندگان مقاله:

فرشید ضیایی - تهران، پژوهشگاه پلیمر و پتروشیمی ایران

خلاصه مقاله:
امروزه، بیشتر پلیمرهای پرمصرف در دنیا ساختار وینیلی داشته و تولید کننده های بزرگ صنعتی رویکرد خاصی نسبت به آن دارند. به همین منظور، فرمول بندی ها و شرایط متنوعی برای سنتز پلیمرهای وینیلی به کار گرفته می شود. به واسطه وجود کربن نامتقارن در هر واحد تکرار شونده، از مهم ترین پارامترهای موجود در پلیمرهای وینیلی، نظم فضایی یا آرایش پیکربندی آنهاست. بنابراین، تغییر در شرایط پلیمرشدن می تواند آثار عمد های در نحوه نظم فضایی مونومرهای وینیلی درون زنجیر پلیمری و به تبع آن آثار قابل توجهی بر خواص نهایی پلیمر داشته باشد. طیف سنجی رزونانس مغناطیسی هسته، بهترین و موثرترین روش برای تعیین مقدار آرایش فضایی و نظم فضایی در پلیمرهای وینیلی است. وجود اتم های کربن و هیدروژن در پلیمرهای وینیلی باعث می شود تا مطالعات طیف سنجی روی آزمون های این دو هسته انجام پذیرد.

کلمات کلیدی:


صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-JR_BSPR-JR_BSPR-2-4_001.html