CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله بررسی توان های مختلف توپوگرافی در تعیین ژئویید با EGM08

عنوان مقاله: بررسی توان های مختلف توپوگرافی در تعیین ژئویید با EGM08
شناسه (COI) مقاله: NCEGIT01_002
منتشر شده در اولین کنفرانس ملی مهندسی فناوری اطلاعات مکانی در سال ۱۳۹۴
مشخصات نویسندگان مقاله:

سهیل هجرتی - دانشجوی کارشناسی ارشد ژئودزی دانشکده فنی و مهندسی دانشگاه آزاد واحد علوم و تحقیقات شاهرود

خلاصه مقاله:
با بکارگیری مدل های پتانسیل ثقل زمین EGM در فرمول استوکس می توان ارتفاع ژئویید را محاسبه کرد به منظور تعیین ارتفاع ژئویید در داخل کره زمین وجود توده های توپوگرافی باعث تولید یک میدان جاذبه می شوند این میدان جاذبه فضای داخل کره زمین را غیر هارمونیک کرده و تعیین ارتفاع ژئویید را با یک بایاس خطا همراه می کند به منظور رفع این بایاس پتانسیل جرم توده های توپوگرافی در لایه های داخلی و خارجی زمین محاسبه می شوند جهت محاسبه پتانسیل جرم توده های توپوگرافی در این لایه ها ارتفاع توپوگرافی تا توان ششم از آن مورد بررسی و ارزیابی قرار می گیرد کمیت به دست آمده اثرات جرم توده های توپوگرافی نام دارد که با اعمال به فرمول استوکس باعث بهبود بخشیدن به ارتفاع ژئویید تعیین شده با استفاده از مدل پتانسیل ثقل زمین می شود در این مطالعه نتایج عددی حاکی از آن بود که اثرات توپوگرافی در توان اول و دوم ارتفاع توپوگرافی بیشترین مقدار در حدود میلی متر را دارند مقدار این اثر از توان سوم تا ششم بشیار کاهش پیدا می کند و تاثیری در حدود میکرومتر و نانومتر بر روی ارتفاع ژئویید دارند مجموع اثر توان اول و دوم ارتفاع توپوگرافی برابر یک مقدار میانگین 0/018 متر بود که با استفاده از این مقدار در فرمول استوکس ارتفاع ژئویید نسبت به این اثرات تصحیح گردید و یک مقدار میانگین برابر با 4/821 متر برای ارتفاع زئویید تصحیح شده در منطقه مورد مطالعه به دست آمد

کلمات کلیدی:
مدل پتانسیل ثقل زمین،فرمول استوکس،ژئویید،بایاس،اثرات جرم توده های توپوگرافی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-NCEGIT01-NCEGIT01_002.html