CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله بررسی ضریب پیزوالکتریک در ساختار چند لایه ای SiGe

عنوان مقاله: بررسی ضریب پیزوالکتریک در ساختار چند لایه ای SiGe
شناسه (COI) مقاله: SCMI16_271
منتشر شده در شانزدهمین همایش انجمن بلور شناسی و کانی شناسی ایران در سال ۱۳۸۷
مشخصات نویسندگان مقاله:

قاسم انصاری پور - دانشکده ی فیزیک، دانشگاه یزد، یزد

خلاصه مقاله:
دراین مقاله خاصیت پیزوالکتریک درلایه تحت کرنش SiGe در ساختار چند لایه ای را بااستفاده ازروش گرماسنجی شابنیکف دهاس مورد مطالعه قرارداده ایم. سپس یک مدل نظری را فرمولبندی کرده ونتایج آن را با داده های ت تجربی برازش داده وضریب پیزوالکتریک آنر محاسبه کرده ایم. این مقدار با نتایج گزارش شده ی اخیرتوافق خوبی نشان می دهد.

کلمات کلیدی:


صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-SCMI16-SCMI16_271.html