CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

گواهی نمایه سازی مقاله بررسی خواص الکترونیکی ریز ساختار 3(I03)In

عنوان مقاله: بررسی خواص الکترونیکی ریز ساختار 3(I03)In
شناسه (COI) مقاله: THINFILM01_036
منتشر شده در اولین کنفرانس ملی نوآوری ها در پردازش لایه های نازک و مشخصه های آنها در سال ۱۳۹۰
مشخصات نویسندگان مقاله:

سیده زینب ساداتی - گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم سبزوار
براتعلی فیض آبادی - گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم سبزوار
جواد باعدی - گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم سبزوار

خلاصه مقاله:
در این مقاله برخی از خواص الکترونی از جمله ساخار نواری، چگالی حالت ها و گاف انرژی برای ترکیب 3(I03)In بر اساس اصول اولیه محاسبه شده است. محاسبات به روش امواج تخت تقویت شده خطی (FP -LAPW) در چارچوب نظریه تابعی چگالی (DFT) با تقریب شیب تعمیم یافته انجام شده است. گاف الکترونی 3/6 ev به دست آمده از روش محاسبات نواری با گاف حاصل از لایه نازک این ترکیب تقریبا یکسان است.

کلمات کلیدی:


صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://www.civilica.com/Paper-THINFILM01-THINFILM01_036.html