امیر هدایتی - دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی مکانیک موسسه آموزش عالی روزبه زنجان
محمد حمیصی - دکترای مهندسی مکانیک دانشکده مکانیک و انرژی دانشگاه شهید بهشتی تهران

برای به دست آوردن اندازه نانوذرات، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) به طورگسترده ای مورد استفاده قرار گرفتند، اما اندازهگیری دستی توزیع اندازه آماری از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی بهمیکروسکوپ الکترونی عبوری وقت گیر بوده و مستلزم انجام کار زیادی می باشد. بنابراین، روشهای آشکارسازی خودکار دراینجا مطلوب می باشند. مقاله حاضر یک الگوریتم پردازش تصویر که عمدت ا بر اساس آشکارسازی کنی و تغییر دایرهای اصلاحشده هاف است را پیشنهاد می کند. الگوریتم پیشنهادی می تواند آستانه های محلی را برای تشخیص ذرات از تصاویر با درجاتپیچیدگی مختلف به کار گیرد/ در مقایسه با نتایج به دست آمده از اعمال آستانه های جهانی، الگوریتم ما از عملکرد بسیاربهتری برخوردار است. استحکام و اعتبار این روش با مقایسه نتایج آن با اندازه گیری دستی تایید شده است و توافق بسیار عالیبه دست آمد. روش پیشنهادی می تواند ذرات با راندمان بالا را به دقت تشخیص دهد.

آشکارسازی لبه کنی تطبیقی و محلی، تبدیل دایرهای اصلاح شده هاف، توزیع اندازه ذرات، پردازش تصویر