بررسی خواص لایه های نازک اکسید اینیدیم آلاییده با قلع و مقایسه نتایج به دو روش بیضی سنجی و کرامرز-کرونیگ

اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم نانو ساختارها است. روشهای متعددی وجوددارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز -کرونیگ و بیضیسنجی را نام برد. در این مقاله با استفاده از این دو روش ضرایب اپتیکی نانو ساختار های اکسید ایندیم آلاییده با قلع که درضخامت های 134،145 و 290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شدهاند را بررسی می کنیم و نتایج را مقایسه می کنیم.