CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

شبیه سازی طیف های اشعه ایکس در رادیوگرافی صنعتی دوانرژی با استفاده از IPEM

عنوان مقاله: شبیه سازی طیف های اشعه ایکس در رادیوگرافی صنعتی دوانرژی با استفاده از IPEM
شناسه ملی مقاله: ICTINDT04_026
منتشر شده در چهارمین کنفرانس بین‌المللی آزمون‌های غیرمخرب ایران در سال 1395
مشخصات نویسندگان مقاله:

مصطفی کبیر - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، دانشکده مهندسی انرژی و فیزیک،
حسین آفریده - استاد تمام، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، دانشکده مهندسی انرژی و فیزیک،
امیر موافقی - استادیار، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران،
بهروز رکرک - استادیار، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران،

خلاصه مقاله:
رادیوگرافی صنعتی تک انرژی امروزه یکی از پر کاربردترین روش های آزمون های غیرمخرب است که تصاویری با جزئیات از عیوب و نایکنواختی های درون یک قطعه ارائه می دهد. رادیوگرافی دو انرژی تکنیک نوینی است که در آن با استفاده از دو طیف پرتوی ایکس، یکی در محدوده انرژی بالا( HE)و دیگری در محدوده انرژی کم( LE)می توان کنتراست بسیار بالاتری را برای یک رادیوگراف زمانی که دو ماده از جنس های متفاوت در کنارهم هستند، به دست آورد. در این پژوهش با استفاده از کد شبیه ساز طیف اشعه ایکس IPEM به شبیه سازی طیف ها پرداخته شده است. هندسه تولید باریکه پرتوی ایکس به طور دقیق توسط کد پیاده سازی گشت. جنس هدف تنگستن و زاویه آند 20 درجه درنظر گرفته شد. اثرات ناشی از اعمال فیلتر با جنس ها و ضخامت های گوناگون بر طیف های HE و LE مورد بررسی قرار گرفت. نتایج استفاده از فیلتر مسی برای حد بالای انرژی و فیلتر آلومینیومی را برای حد پایین انرژی سیستم دو انرژی پیشنهاد می کند. همچنین در این پژوهش بررسی کیفیت اثر فیلتر نیز انجام شده است.

کلمات کلیدی:
رادیوگرافی صنعتی، طیف اشعه ایکس، IPEM، تکنیک دو انرژی، فیلتراسیون

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/910508/