بررسی تاثیر نوسانات تصادفی ناخالصی روی خواص الکترونیکی نانوسیم InxGa1-xN/GaN با سطح مقطع شش ضلعی تغییر شکل داده شده
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 487
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IRCCE05_113
تاریخ نمایه سازی: 17 مرداد 1398
چکیده مقاله:
امروزه نیمه هادیها مواد مهمی از گروه جامدات هستند که کاربردهای زیادی در حوزه تحقیقاتی پیدا کرده اند. این مواد در ساخت قطعاتی الکترونیکی، سلولهای خورشیدی، لیزرهای نیمه هادی، دیودهای نوری و ... بکار میروند. یکی از ویژگیهای مهم نیمه هادیها که آنها را از نارساناها و فلزات متمایز ساخته این است که در نیمه هادیها، با تغییر میزان درصد ناخالصی میتوان رسانایی الکتریکی آنها را تنظیم کرد. در این مقاله، با توجه به اهمیت مواد ایندیم گالیم نیترید و بخصوص کاربرد وسیع آنها در ساختارهای قطعات الکترونیکی، خواص الکترویکی نانوسیم ناهمگن InxGa1-xN/GaN که دارای یک سطح مقطع شش ضلعی تغییر شکل داده شده میباشد، بوسیله تغییر درصد ناخالصی ایندیم در آن مورد بررسی قرار گرفته است. محاسبات با استفاده از نرم افزار sphinx و بر اساس تئوری k.p هشت باند مبتنی بر موج تخت انجام پذیرفته است. در این مقاله، با ارائه شکلهای چگالی بار الکترون و حفره با درصدهای مختلف ایندیم در نانوسیم مذکور، همپوشانی بین الکترونها و حفره ها و همچنین انرژی آنها مقایسه و بیان شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مجید داور
دانشجوی کارشناسی ارشد، قم، بلوار الغدیر، دانشگاه قم، گروه شیمی
سیدحسام الدین حسینی
دانشجوی کارشناسی ارشد، قم، بلوار الغدیر، دانشگاه قم، گروه شیمی
مرتضی ترابی راد
دانشجوی دکتری، تهران، خیابان انقلاب، دانشگاه تهران، دانشکده شیمی
اولیرو مارکارت
محقق موسسه WIAS برلین آلمان