مطالعه ویژگی های فیزیکی لایه های نازک ZnO بر روی زیر لایه های شیشه ، منو و مولتی بلور سیلیکیون
محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,403
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP15_080
تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387
چکیده مقاله:
هدف از این پژوهش بررسی ویژگی های فیزیکی و ساختاری لایه های نازک ZnO بر روی زیر لایه های مختلف می باشد به این منظور لایه های اکسید روی در شرایط مشابه بر روی زیر لایه های شیشه . منوکریستال سیلیکون (100) نوع O مولتی کریستال سیلیکون لایه نشانی و سپس در دمای C 400 در کوره خلاء تحت عملیات گرمادهی قرار گرفته اند ویژگی های اپتیکی . ساختار بلوری و ساختار سطحی این لایه ها با کمک آنالیز های طیف UV/VIS/IR و XRD و SEM مورد بررسی قرار گرفته است
کلیدواژه ها:
نویسندگان
شیدا باقر زاده
آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
نگین معنوی زاده
آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
ابراهیم اصل سلیمانی
آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
محمد هادی ملکی
پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای ، پژوهشکده لیزر و اپتیک
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :