اندازه گیری مقدار چینش میکروسکوپ های چینشی (DIC)
محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,000
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCOLE03_008
تاریخ نمایه سازی: 28 آذر 1392
چکیده مقاله:
میکروسکوپ چینشی وسیله ای قدرتمند برای تصویر برداری از اجسام فازی میکرونی است. اساس کار این نوعمیکروسکوپ تقسیم نور به دو باریکه و بازترکیب آن ها به منظور ایجاد طرح تداخلی است. به فاصله جدایی این دوباریکه مقدار چینش گفته می شود. مشخص بودن مقدار چینش، برای بسیاری از کاربردهای این نوع میکروسکوپی ماننداندازه گیری پارامترهای هندسی یا نمایه ضریب شکست اجسام فازی ضروری است. در این مقاله روشی آسان براساستحلیل طرح تداخلی ناشی از یک میکروکره برای اندازه گیری مقدار چینش این نوع میکروسکوپ ها ارائه شده است. با استفاده از این روش مقدار چینش برای بزرگ نمایی های مختلف میکروسکوپ الیمپوس مدل IX-71 اندازه گیری شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
امین مرادی
دانشکده فیزیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان، زنجان
احسان احدی اخلاقی
دانشکده فیزیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان، زنجان
احمد درودی
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :