تشخیص وقوع خطا و مکان آن در ریز شبکه های DC با استفاده از شبکه های عصبی بازگشتی و دسته بند مبتنی بر درخت تصمیم گیری

سال انتشار: 1400
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 126

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_ENERGY-11-4_005

تاریخ نمایه سازی: 29 آبان 1401

چکیده مقاله:

در سال های اخیر ریزشبکه ها نقش مهمی را در شبکه های توزیع ایفا کرده اند. ریزشبکه های  DCبه دلیل مزایای خود به یکی از موضوعات محبوب محققان تبدیل شده اند. یکی از چالش های اساسی در مسیر توسعه ریزشبکه های DC مسائل مربوط به حفاظت آن هاست. در نتیجه در این مقاله یک روش حفاظتی برای تشخیص وقوع خطا و مکان آن در ریزشبکه های DC ارائه شده است. با توجه به پیشرفت های صورت گرفته در زمینه هوش مصنوعی و عملکرد خوب روش های حفاظتی هوشمند در ریزشبکه های AC، در این مقاله از شبکه های عصبی بازگشتی برای تعییین مکان خطا استفاده شده است. در این مقاله از سنجش جریان فیدرهای بار و ولتاژ شینه اصلی برای تشخیص وقوع خطا و تعیین مکان آن استفاده می شود. همچنین عملکرد روش حفاظتی ارائه شده در هر دو حالت متصل به شبکه و جزیره ای بررسی شده و نتایج حاصل، عملکرد مناسب روش حفاظتی ارائه شده را تایید می کنند. در این مقاله از نرم افزار MATLAB برای آموزش و تست الگوریتم های یادگیری ماشین و شبکه بازگشتی و از نرم افزار DIgSILENT برای شبیه سازی ریزشبکه DC مورد مطالعه استفاده می شود.

نویسندگان

امیرحسین اکبری شریف

Shahid Beheshti University, Department of Electrical Enigneering

حسین کاظمی کارگر

Shahid Beheshti University, Department of Electrical Enigneering

سامان اسماعیل بیگی

Shahid Beheshti University, Department of Electrical Enigneering

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Zhang, L., Tai, N., Huang, W., Liu, J. and Wang, ...
  • Hatziargyriou, N., Asano, H., Iravani, R. and Marnay, C., "Microgrids", ...
  • DING, G., GAO, F., ZHANG, S. and et al. "Control ...
  • Salomonsson, D., Soder, L. and Sannino, A., "Protection of Low-Voltage ...
  • Fletcher, S. D. A., Norman, P. J., Galloway, S. J., ...
  • pp. ۲۰۷۹-۲۰۸۷, Dec. ۲۰۱۲ ...
  • Dragičević, T., Lu, X., Vasquez, J. C. and Guerrero, J. ...
  • Olivares, D. E. and et al., "Trends in Microgrid Control", ...
  • Shi, X. and Bazzi, A. M., "Reliability modeling and analysis ...
  • Li, X., Song, Q., Liu, W., Rao, H., Xu, S. ...
  • Yang, J., Fletcher, J. E. and O'Reilly, J., "Short-Circuit and ...
  • Li, W., Luo, M., Monti, A. and Ponci, F., "Wavelet ...
  • Saleh, K.A., Hooshyar, A. and El-Saadany, E. F., "Ultra-High-Speed Traveling-Wave-Based ...
  • Meghwani, A., Srivastava, S.C. and Chakrabarti, S., "A Non-unit Protection ...
  • Bhargav, R., Bhalja, B. R. and Gupta, C.P., "Novel Fault ...
  • Sebastian, C.H. and Shereef, R. M., "Location of Fault in ...
  • Qingqing, Yang., Jianwei, Li., Blond, Le., Cheng, Simon and Wang., ...
  • Yoon, J. M., He, D. and Qiu, B., "Full ceramic ...
  • Jayamaha, D. K. J. S., Lidula, N. W. A. and ...
  • Haque, M., Shaheed, M. N. and Choi, S., "Deep Learning ...
  • Park, J. and Candelaria, J., "Fault Detection and Isolation in ...
  • Geron, A., "Hands-on machine Learning with Scikit-Learn, Keras & TensorFlow:Concepts,Tools ...
  • Zhang, L., Tai, N., Huang, W., Liu, J. and Wang, ...
  • Hatziargyriou, N., Asano, H., Iravani, R. and Marnay, C., "Microgrids", ...
  • DING, G., GAO, F., ZHANG, S. and et al. "Control ...
  • Salomonsson, D., Soder, L. and Sannino, A., "Protection of Low-Voltage ...
  • Fletcher, S. D. A., Norman, P. J., Galloway, S. J., ...
  • pp. ۲۰۷۹-۲۰۸۷, Dec. ۲۰۱۲ ...
  • Dragičević, T., Lu, X., Vasquez, J. C. and Guerrero, J. ...
  • Olivares, D. E. and et al., "Trends in Microgrid Control", ...
  • Shi, X. and Bazzi, A. M., "Reliability modeling and analysis ...
  • Li, X., Song, Q., Liu, W., Rao, H., Xu, S. ...
  • Yang, J., Fletcher, J. E. and O'Reilly, J., "Short-Circuit and ...
  • Li, W., Luo, M., Monti, A. and Ponci, F., "Wavelet ...
  • Saleh, K.A., Hooshyar, A. and El-Saadany, E. F., "Ultra-High-Speed Traveling-Wave-Based ...
  • Meghwani, A., Srivastava, S.C. and Chakrabarti, S., "A Non-unit Protection ...
  • Bhargav, R., Bhalja, B. R. and Gupta, C.P., "Novel Fault ...
  • Sebastian, C.H. and Shereef, R. M., "Location of Fault in ...
  • Qingqing, Yang., Jianwei, Li., Blond, Le., Cheng, Simon and Wang., ...
  • Yoon, J. M., He, D. and Qiu, B., "Full ceramic ...
  • Jayamaha, D. K. J. S., Lidula, N. W. A. and ...
  • Haque, M., Shaheed, M. N. and Choi, S., "Deep Learning ...
  • Park, J. and Candelaria, J., "Fault Detection and Isolation in ...
  • Geron, A., "Hands-on machine Learning with Scikit-Learn, Keras & TensorFlow:Concepts,Tools ...
  • نمایش کامل مراجع