ارائه روشی جهت تعیین بخشهای حساس مدارهای الکترونیکی نسبت به پالسهای سریع گذرا

آزمون مصونیت در مقابل پالس های سریع گذرا یکی ازآزمون های نوعی مهمی است که به منظور بررسی ایمنی دستگاه در مقابل اغتشاشات ناشی از پدیده سوئیچینگ و ناشی از بارهای سلفی کوچک و قطع و وصل کنتاکترله ها یا سوئیچینگ کلیدهای ولتاژ بالا بر روی تجهیزات اعمال م یشود و کارایی دستگاه تحت این نوع اغتشاشات مورد بررسی قرار می گیرد. با انجام آزمون پالس های سریع گذرا مطابق استاندارد بر روی کل دستگاه و عدم موفقیت در گذراندن آن، اولاً نقطه حساس مدار به راحتی قابل تشخیص نیست، ثانیاً تکرار این نوع آزمون ها در آزمایشگاه های مربوطه بسیار زمانبر و هزینه بر می باشد. بااستفاده از مدار کم هزینه شبی هساز پال سهای سریع گذرا می توان در مرحله طراحی و ساخت اولیه مدارهای الکترونیکی، نقاط حساس آن را مشخص نمود و نسبت به رفع حساسیت آن ها اقدام نمود. در این مقاله به معرفی ویژگی های پال سهای سریع گذرا و ارائه روشی جهت شبیه سازی این پالس ها که در مرحله طراحی دستگاهDTPS-8C نیز مورد استفاده قرار گرفته، پرداخته شده است.

کلیدواژه ها:

سازگاری الکترومغناطیسی ، پال سهای سریع گذرا