بررسی خواص الکترونیکی آرسنین تک لایه با افزودن دوپینگ آلومینیوم، سیلیکون، گوگرد و فسفر

سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 547

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ECMCONF01_077

تاریخ نمایه سازی: 5 آبان 1397

چکیده مقاله:

در این مقاله با استفاده از محاسبات اصول اولیه، در ابتدا ساختار آرسنین تک لایه را از نظر پایداریترمودینامیکی، مورد بررسی و مطالعه قرار دادهایم. همچنین اعمال ناخالصی به شبکه کریستالی آرسنین نیزمورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه خواص الکترونیکی آرسنین تک لایه با توجه به میزان شکاف نوارانرژی، نمودارهای ساختار نوار انرژی و چگالی حالات مطالعه شده است. با استفاده از شبیه سازی ها میزانشکاف انرژی آرسنین تک لایه بدون اعمال ناخالصی مقدار 1/61 الکترون ولت و به صورت غیر مستقیم بدست آمده است. شبیه سازی های انجام شده در این تحقیق نشان داده است که اضافه کردن ناخالصی آلومینیوم وفسفر منجر به ایجاد خاصیت نیمهرسانایی با گاف انرژی 0/7 و 1/62 الکترون ولت می شود. لازم به ذکر است، ناخالصی آلومینیوم شکاف باند مستقیم و ناخالصی فسفر شکاف باند غیر مستقیم ایجاد می کنند. همچنیناضافه کردن ناخالصی سیلیکون و گوگرد منجر به ایجاد خاصیت شبه فلزی در آرسنین می شوند.

نویسندگان

آرش یزدان پناه گوهرریزی

دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده مهندسی برق، تهران، ایر

آرش کرایی شیراز

دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما، تهران، ایران